SEU

SEU 事件本身比较罕见，但当 SEM 应用于量产产品、且部署的芯片数量较多时，SEU 的总发生次数依然可观。如果每次 SEU 都重新配置对应芯片，对许多客户和应用场景而言是无法接受的

由于高能粒子的撞击，器件的存储单元内容有可能受到干扰，甚至出现翻转。这种单个存储单元的翻转现象（原有内容为0的变成1；或者原有为1的变成了0）就称为SEU （Single Event Upset）。下面我们就基于KCU116开发板，介绍一下如何在设计中加入一个最基本功能的SEM IP，从而开启芯片的SEU检测功能。